芯片失效分析——复达客户检测案例
类别:客户案例 发布时间:2021-09-01 611 611 2021-09-01
客户是上海某医疗科技公司,发现其中一台设备中芯片进行读写时操作失败。据委托方提供的信息,正常芯片DAT和GND引脚的阻抗约为10M欧,这颗异常芯片的阻抗无穷大。故委托方委托我司对故障的芯片进行失效分析。
IEERAM 芯片
对故障的芯片进行失效分析
我司工程师对失效芯片1#和良好芯片2#进行测试。分别对芯片进行了外观,X-ray,SAM,开盖观察,电性能测试。探明失效原因由于第二焊点的焊线脱落导致的。
四氧化三钴XRD测试——复达客户检测案例
委托复达检测中心对客户提供的样品进行XRD测试,要求2度每分钟,扫描范围:10-80度。
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