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芯片显微红外测试——复达客户检测案例
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473 客户背景
一企业客户继上次测试显微红外又继续送样。
样品名称
块状的芯片
客户需求
需要根据客户提供的定位图片进行准确的找点，测试微区的红外图谱。
总共有样品D（1颗）、样品E（1颗）、样品F（1颗），共三个样品需要进行显微红外光谱的测试。
解决方案
沟通客户寄送样品，实验室接收到样品后进行长时间的观察找点。测试完后将数据发给客户。
样品D：
芯片正中间有一个圆形开孔，显微镜照片如图所示。开孔中有一个八边形区域，此区域为待测区域，尺寸大约为300um * 300um。实际的测试点取这个八边形区域内靠中心区域的点，例如蓝色框标示的点。
样品E：
芯片中间靠上有一个矩形开孔，显微镜照片如图所示。开孔中有一个矩形区域，此区域为待测区域，尺寸大约为300um * 300um。实际的测试点取这个矩形区域内靠中心区域的点，例如蓝色框标示的点。
样品F：
芯片中间靠上有一个圆形开孔，显微镜照片如图所示。开孔中有一个圆形区域，此区域为待测区域，尺寸大约为300um * 300um。实际的测试点取这个圆形区域内半圆区域中的点，例如蓝色框标示的点。
客户反馈
客户查看数据后对数据质量满意。
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