复达检测可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS检测报告，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。

检测范围

单面抛光锗晶片、双面抛光锗晶片、高纯锗晶片、红外专用锗晶片、超薄锗晶片等

检测项目

晶格缺陷、表面平整度、厚度偏差、纯度、电阻率、透光率、表面粗糙度、位错密度等

检测标准

GB/T 25075-2010 锗单晶及晶片技术条件

SJ/T 11434-2013 半导体晶片表面质量检测规范

GB/T 15521-2017 半导体材料电阻率测试

ASTM F42-2020 半导体锗晶片检测标准

检测流程

1、沟通需求(在线或电话咨询);

2、寄样(邮寄样品支持上门取样);

3、初检(根据客户需求确定具体检测项目);

4、报价(根据检测的复杂程度进行报价);

5、签约(双方确定--签订保密协议);

6、完成实验(提供检测报告，售后服务)。  

复达业务领域

检测领域：理化性能测试、有毒有害物质检测、阻燃性能检测、可靠性测试等。

测试领域：能谱类、电镜类、波谱类、色谱类、质谱类等。

鉴定领域：机械设备质量鉴定、安全事故鉴定、电子电器鉴定、材料鉴定等方向。

研发领域：配方开发、配方升级、配方定制、合作研发等。

分析领域：成分分析、配方分析、失效分析、结构解析、方法学开发与验证、原材料质控/评价、一致性评价、特色分析等。